KOSAKA小坂臺階儀
株式會社小坂研究所(KOSAKA)，這家擁有深厚技術底蘊的日本專業廠商，自1950年創立以來，便致力于精密測定的研究與創新。其中，KOSAKA ET150臺階儀是該公司的杰出代表，它基于Windows XP操作系統，為各類表面提供全面的形貌分析。無論是半導體硅片、太陽能硅片，還是薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子等，ET150都能應對自如，實現高精度的測量。其的金剛石(鉆石)探針接觸測量方式，使得表面形貌分析變得簡單而可靠。此外，ET150還具備多種功能，如測量表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度以及薄膜應力等。
KOSAKA小坂臺階儀配備了不同型號的探針，并提供了程序控制接觸力和垂直范圍的探頭。其彩色CCD原位采集設計使得探針工作狀態一目了然，大大提高了測試區域的定位準確性。同時，ET150還具備二次元表面解析功能，可輕松測量段差，且具有高精度、高分辨率以及出色的再現性。此外，其FPD面板顯示使得微細表面形狀、段差、粗度等的測定變得簡單易懂。更值得一提的是，其低測定力設計使得軟質材料的測定也成為可能。
縱軸可達到的最高分辨率為0.1納米，而橫軸的最高分辨率則可達到0.1微米，這使得KOSAKA ET150臺階儀能夠精確地測定微細形狀。
其測定力范圍可靈活設定，從10至500微牛頓，或1至50毫克力，適應不同材料的測量需求。該臺階儀特別適用于軟質材料的表面測量，例如COLOR FILTER、SPACER以及PI等。
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產品型號：ET200A
更新時間：2025-07-14
廠商性質：代理商
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